电子工程师都应该学习的一个标准文档

        这两天在写关于PCB仿真技术的文章，顺带研读了一些之前获得的一些存量文档，有不少非常不错的文档，今天可以给大家分享一个。

        其中这是一个关于PCB损耗测试的文档。文档名称为IPC-TM-650 TEST METHODS MANUAL。这个文档详细介绍了大批量PCB损耗的测试方式。损耗对于高速PCB来讲，也是毫不亚于阻抗之于PCB的地位。当然，通用的PCB损耗测试方式就用网络分析仪直接测量传输线的损耗。

        但是对于大规模的的PCB而言，不可能直接让人工直接来测试，这样既费时又费力，所以通常会有一些简单、便捷、快速的方式来替代。当然这也给一些仪器仪表的系统集成商带来一些市场机会。如下就是文档中介绍的一些方法。

        这几年，随着技术的发展，有一些芯片厂商也在尝试一些新的方法，比如Intel就发明了Delta L的技术。

        在文档中还介绍了test coupons的设计方法以及连接头的选择，这对于很多没有做过类似的测试板或者有测试要求的产品来讲就非常具有参考性。

        当然，如果要在非常高速的频率点测试，还是要自己琢磨着设计以及选择测试连接头。我在上上周的一个关于高速夹具设计的技术交流活动中特意给大家做了一个不同的头子对设计还是有不小的影响的：

        当然，文档介绍的很详细，具体的大家自己去阅读下，有问题再进一步的讨论。关于这方面的内容，差不多每年都会有PCB WEST和Designcon的文章介绍。

         获取文档的方式和以前一样，还是在公众号后台发送“PCB标准”或者“PCB standard”获取下载链接。文档仅供学习参考，不用作任何商业用途。链接7天有效。