救命！这周良率分析报告要交，我光截图就快截吐了 ——CP/WAT 相关性图、Parametric Map、CDF Plot，这些足足 100 多页，一页页切窗口、调分辨率，手都酸了，还漏了两张！咱们做半导体数据分析的，报告里全是工艺参数图、良率热力图，手动截图不仅费时间，还容易格式乱七八糟，PPT里拼起来大小都不统一。啊？DE-G 还能导出PPT？我只用它做数据分析，没试过导出报告的功能啊！那你可亏大了！DE-G 最绝的就是按页批量导出功能 —— 你把要放进报告的图表按章节排好，不管是 50页还是100 页，点一下导出，直接按顺序生成高清图包，像你刚刚说的图表全给你整得明明白白。听起来太实用了，但我在DE-G中没有看到相关功能的入口呀，能帮我简单演示一下吗？当然没问题啦，只要你在 DE-G 里排好内容，导出时全给你打包带走。像这里的将近三百页的CDF Plot和Parametric Map，两三分钟就导完了，换做以前手动截图，至少得耗大半天。
哇，这也太香了吧，终于可以解放双手了，而且我看这导出的PPT，是可以直接使用公司的模板的哎。对啊，在导出PPT的时候，你不仅可以选择咱们公司自己的模板，还可以设置图片的长宽比和清晰度，这样得到的报告视觉上看上去就舒服。此外还可以将crosstab以附件的形式嵌在报告里呢，完全不用担心内容过宽，PPT放不下的问题。这设计也太贴合咱们的工作场景了！对了，我刚做完 WAT 与 CP 关键参数的相关性分析，想精准导出 R²≥0.5 或者排名前十的强关联项目，方便聚焦核心工艺链路，这个能实现吗？当然可以了，你只需要做好相关性分析，然后设置一下导出的参数，就能精准筛选出符合设置的 R² 阈值、或者是导出数量的项目。系统会自动生成带统计标注的图表，每页标题会同步显示关联参数名称与 R² 数值，完全不用手动编辑，特别省心！
这么高级的功能都有的呀，我看这报告上面每一页的Title都是变化的呢...是呀，这也是DE-G的强大之处，不仅可以显示章标题，还可以根据用户自定义显示每一页的标题呢。
而且呢，DE-G 不仅在数据分析环节给工程师足够的灵活度，在报告导出环节也充分考虑了半导体行业的专业需求，给予了极高的自定义自由度。对了，听说你带的新产品已经进入预量产阶段了？那它的 “按行导出报告” 这个功能你可千万别错过！新产品预量产阶段，不是需要跟踪各关键参数的 Fail Ratio 与 CPK 数据吗？在 DE-G 中完成Dashboard 搭建后，在设置中勾选按行导出功能，就能自动将 Table 中每一行的参数数据生成独立图表，标题会直接嵌入该参数的CPK等信息，不用手动拆分和编辑，完全适配预量产阶段的参数管控报告需求。这简直就是为我们量身定做的！ DE-G 不仅数据分析能力强，没想到导出功能这么懂咱们 fab 工程师的痛，这波属实是 productivity 救星了！试过你就知道，以后写报告再也不用熬夜截图、反复调整格式了。导出的图表高清规范、格式整齐，简直就是专业度拉满，咱们也能把省下来的时间放在核心的工艺分析和良率优化上。联系邮箱：degmarketing@semitronix.com
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DataExp-General（简称DE-G）是广立微自主研发的智能数据决策引擎，以"更快、更深、更准的数据洞察"为核心，重构数据认知维度。作为一款专业、灵活、高效的通用型统计分析平台，DE-G深度融合可视化探索、预测建模、实验设计、六西格玛质量管理等数据分析技术，通过智能分析驱动决策，为半导体制造、化工与材料、生物医药、高端装备制造、金融科技等行业提供数据价值挖掘的终极解决方案。在半导体领域，DE-G凭借行业级深度认知，创新开发特性化功能模块，将海量数据转化为工艺优化的"导航系统"，助力企业突破技术瓶颈，实现从"数据可见"到"认知可及"的跨越。• 多维分析：覆盖可视化探索、预测建模、实验设计、六西格玛等全场景质量管控DE-G不仅是工具，更是企业探索数据深海、构建竞争壁垒的战略伙伴
